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文章詳情

表面粗糙度的測(cè)量

日期：2025-05-09 11:39
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摘要：
表面粗糙度的測(cè)量
表面粗糙度的檢測(cè)程序
序號(hào)
測(cè)量方法
檢驗(yàn)程序說(shuō)明
1
目測(cè)檢查
　　當(dāng)工件表面粗糙度比規(guī)定的粗糙度明顯的好或不好，不需用更**的方法檢驗(yàn)。工件表面存在著明顯影響表面功能的表面缺陷，選擇目測(cè)法檢驗(yàn)判定
2
比較檢查
　　若用目測(cè)檢查不能做出判定，可采用視覺(jué)或顯微鏡將被測(cè)表面與粗糙度比較樣塊比較判定
3
儀器檢查
　　若用粗糙度比較樣塊比較法不能做出判定，應(yīng)采用儀器測(cè)廚：
　①對(duì)不均勻表面，在*有可能出現(xiàn)粗糙度參數(shù)極限值的部位上進(jìn)行測(cè)量；
?、趯?duì)表面粗糙度均勻的表面，應(yīng)在幾個(gè)均布位置上分別測(cè)量，至少測(cè)量3次；
?、郛?dāng)給定表面粗糙度參數(shù)上限或下限時(shí)，應(yīng)在表面粗糙度參數(shù)可能出現(xiàn)*大值或*小值處測(cè)量；
　④表面粗糙度參數(shù)注明是*大值的要求時(shí)，通常在表面可能出現(xiàn)*大值(如有一個(gè)可見(jiàn)的深槽)處，至少測(cè)量3次；  
　　測(cè)量方向：
?、賵D樣或技術(shù)文件中規(guī)定測(cè)量方向時(shí)，按規(guī)定方向進(jìn)行測(cè)量；
?、诋?dāng)圖樣或技術(shù)文件中沒(méi)有指定方向時(shí)，則應(yīng)在能給出粗糙度參數(shù)*大值的方向測(cè)量，該方向垂直于被測(cè)表面的加工紋理方向；
?、蹖?duì)無(wú)明顯加工紋理的表面，測(cè)量方向可以是任意的，一般可選擇幾個(gè)方向進(jìn)行測(cè)量，取其*大值為粗糙度參數(shù)的數(shù)值
檢測(cè)表面粗糙度的常用方法
序號(hào)
檢驗(yàn)方法
適用參數(shù)及
范圍（μm）
說(shuō)明
1
樣塊
比較法
直接目測(cè)：
Ra>2.5；
用放大鏡：
Ra >
0.32～0.5；
　　以表面粗糙度比較樣塊工作面上的粗糙度為標(biāo)準(zhǔn)，用視覺(jué)法或觸覺(jué)法與被測(cè)表面進(jìn)行比較，以判定被測(cè)表面是否符合規(guī)定；     
　　用樣塊進(jìn)行比較檢驗(yàn)時(shí)，樣塊和被測(cè)表面的材質(zhì)、加工方法應(yīng)盡可能一致；     
　　樣塊比較法簡(jiǎn)單易行，適合在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)使用
2
顯微鏡
比較法
Ra <0.32
　　將被測(cè)表面與表面粗糙度比較樣塊靠近在一起，用比較顯微鏡觀察兩者被放大的表面，以樣塊工作面上的粗糙度為標(biāo)準(zhǔn)，觀察比較被測(cè)表面是否達(dá)到相應(yīng)樣塊的表面粗糙度；從而判定被測(cè)表面粗糙度是否符合規(guī)定。此方法不能測(cè)出粗糙度參數(shù)值
3
電動(dòng)
輪廓儀
比較法
Ra ：
0.025～6.3
Rz：
0.1～25
      電動(dòng)輪廓儀系觸針式儀器。測(cè)量時(shí)儀器觸針**在被測(cè)表面上垂直于加工紋理方向的截面上，做水平移動(dòng)測(cè)量，從指示儀表直接得出一個(gè)測(cè)量行程Ra值。這是Ra值測(cè)量*常用的方法?；蛘哂脙x器的記錄裝置，描繪粗糙度輪廓曲線的放大圖，再計(jì)算Ra或Rz值。此類儀器適用在計(jì)量室。但便攜式電動(dòng)輪廓儀可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)使用
4
光切
顯微鏡
測(cè)量法
Rz：
0.8～100
　　光切顯微鏡(雙管顯微鏡)是利用光切原理測(cè)量表面粗糙度的方法。從目鏡觀察表面粗糙度輪廓圖像，用測(cè)微裝置測(cè)量Rz值和Ry值。也可通過(guò)測(cè)量描繪出輪廓圖像，再計(jì)算Ra值，因其方法較繁而不常用。必要時(shí)可將粗糙度輪廓圖像拍照下來(lái)評(píng)定。光切顯微鏡適用于計(jì)量室
5
干涉
顯微鏡
測(cè)量法
Rz：
0.032～0.8
　　干涉顯微鏡是利用光波干涉原理，以光波波長(zhǎng)為基準(zhǔn)來(lái)測(cè)量表面粗糙度的。被測(cè)表面有一定的粗糙度就呈現(xiàn)出凸凹不平的峰谷狀干涉條紋，通過(guò)目鏡觀察、利用測(cè)微裝置測(cè)量這些干涉條紋的數(shù)目和峰谷的彎曲程度，即可計(jì)算出表面粗糙度的Ra值。必要時(shí)還可將干涉條紋的峰谷拍照下來(lái)評(píng)定。干涉法適用于精密加工的表面粗糙度測(cè)量。適合在計(jì)量室使用
 

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